质构仪探头- 食品专用探头 TA/SFR

可测量折断压力和弯曲特性，主要用于干面条的测试，由于硬质小麦的发芽损伤导致面条质地损伤，或者不同的烘干程序使面条产生了不同的特性，通过该方法可以反映面条的质地，包装运输过程中的抗折断性。尤其是不仅仅完成常规的断条率测试，还可以帮助用户了解折断强度和抗弯柔性信息。